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Proceedings Of The International Symposium On The Physical And Failure Analysis Of Integrated Circuits, Ipfa
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英文
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Institute Of Electrical And Electronics Engineers Inc.
更新时间：
2026-04-07 13:53:15
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Proceedings Of The International Symposium On The Physical And Failure Analysis Of Integrated Circuits, Ipfa 《国际集成电路物理与失效分析研讨会论文集》（IPFA）是芯片失效分析领域的权威会议。该会议录发表故障定位、缺陷分析、可靠性测试及良率提升研究，内容涵盖电子显微镜分析、激光探测、静电放电（ESD）防护及电迁移，服务于半导体制造与封装测试的质量控制。